小田 裕哉

小田 裕哉

通信周波数の拡張や法規同行に伴い、この先更にEMCとしては試験で対応すべき領域が増えてくると予想しています。現状のやり方では対応できなくなっているとも考えている為、SIM技術を更に進化させる、実機試験の効率化を加速していく必要があると考えています。50年後については、理想は全てSIMで完結する事ですが、システムの高度化、高周波化もあり、全ては難しいと感じています。そこで更なる実機試験の効率化が必要と考えています。車両のアンテナ近接試験やESDは印加するポイントも多い為、全ての部品に均一に、かつ同レベルで印加出来る手段やエミッション試験については、TDSの測定時間の更なる短縮化、イミュニティについては、車両の全方位に均一に電界をあてることで、アンテナ車載、近接、認証イミュニティを同時担保する技術などが必要と考えています。そうした技術を駆使し、今後の技術の発展と共存していけるようにしていきたいと考えております。

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